技术支持 | Technical Support

• 石英晶体元器件检测和试验标准

•     SJ/Z9154.1-87(IEC444-1(1986))用π网络零相位法测量石英晶体元件参数 第一部分，频率和谐振电阻测量

•      SJ/Z9154.2-87(IEC444-2)(1980)用π网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分，相位偏置法测量动态电容

•     SJ/Z9154.3-87(IEC444-3)用π网络零相位法测量石英晶体元件参数 第三部分，利用有并电容C0补偿的π型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的测量方法

•     SJ/T11212-1999 (IEC444-69(1995)) 石英晶体元件参数测量 第6部分 激励电平相关性（DLD） 测量

•     IEC68-2 环境试验 第二部分 各种试验

•     GB2423 电工电子产品环境试验标准

•     GJB360A-1996（MIL-STD-202F）电子及电气元件试验方法

•     MIL-STD-883 微电子器件试验方法和程序